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近日從CQC中心了解到,自愈式低電壓并聯(lián)電容器認(rèn)證規(guī)則進(jìn)行了換版,CQC13-461244-2018《自愈式低電壓并聯(lián)電容器認(rèn)證規(guī)則》代替CQC13-461244-2010《自愈式低電壓并聯(lián)電容器認(rèn)證規(guī)則》,產(chǎn)品類別號020009。 認(rèn)證依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)由GB/T 12747.1-2017、GB/T 12747.2-2017替代GB/T 12747.1-2004、GB/T 12747.2-2004。
附件:新舊標(biāo)準(zhǔn)差異及補(bǔ)充試驗(yàn):
序號 | 試驗(yàn)項(xiàng)目 | 新增/差異/刪除 | 條款 | 標(biāo)準(zhǔn)差異 | 補(bǔ)做試驗(yàn)說明 | 備注 | ||
GB/T 12747.1-2004 | GB/T 12747.1-2017 | |||||||
1 | 端子間電壓試驗(yàn) (例行試驗(yàn)) | 差異 | 9.1 | 9.1 | 新標(biāo)準(zhǔn): 增加: “試驗(yàn)前后應(yīng)測量電容。” 刪除: “注2:只要電容偏差仍然滿足要求,且每一單元中動作的熔絲不超過兩根,則內(nèi)部元件熔絲動作是允許的?!?/span> 在7電容策略和容量計(jì)算中: “電容測量應(yīng)在端子間電壓試驗(yàn)(見第9章)之后進(jìn)行?!?/span> 舊標(biāo)準(zhǔn): 在7電容策略和容量計(jì)算中: “電容測量應(yīng)在端子間電壓試驗(yàn)(見第9章)之后進(jìn)行?!?/span> | 因?yàn)榕f標(biāo)準(zhǔn)中要求在此試驗(yàn)后進(jìn)行電容測量,而新標(biāo)準(zhǔn)雖然要求在此試驗(yàn)前后測量電容,但是沒有對試驗(yàn)前后電容變化作出要求,所以可以不補(bǔ)做此項(xiàng)試驗(yàn)。 | ||
2 | 端子間電壓試驗(yàn) (型式試驗(yàn)) | 差異 | 9.2 | 9.2 | 新標(biāo)準(zhǔn): 增加: “試驗(yàn)前后應(yīng)測量電容?!?/span> 刪除: “注2:只要電容偏差仍然滿足要求,且每一單元中動作的熔絲不超過兩根,則內(nèi)部元件熔絲動作是允許的。” 在7電容策略和容量計(jì)算中: “電容測量應(yīng)在端子間電壓試驗(yàn)(見第9章)之后進(jìn)行?!?/span> 舊標(biāo)準(zhǔn): 在7電容策略和容量計(jì)算中: “電容測量應(yīng)在端子間電壓試驗(yàn)(見第9章)之后進(jìn)行。”
| 因?yàn)榕f標(biāo)準(zhǔn)中要求在此試驗(yàn)后進(jìn)行電容測量,而新標(biāo)準(zhǔn)雖然要求在此試驗(yàn)前后測量電容,但是沒有對試驗(yàn)前后電容變化作出要求,所以可以不補(bǔ)做此項(xiàng)試驗(yàn)。 | ||
3 | 熱穩(wěn)定性試驗(yàn) | 差異 | 13 | 13 | 新標(biāo)準(zhǔn): “單元之間的間距應(yīng)等于制造方說明書中規(guī)定的正常間距。” “試驗(yàn)應(yīng)在滿足下列兩種情況中的一種后停止: ——在6h期間,電容器外殼從底部向上2/3高度處(不包括端子)測得的溫度的變化不大于1℃。在這種情況下試驗(yàn)被認(rèn)為是有效的。 ——如果在連續(xù)的3個6h期間溫度的增加沒有減少,在這種情況下試驗(yàn)被認(rèn)為是失敗的?!?/span> 舊標(biāo)準(zhǔn): “單元之間的間距應(yīng)小于等于規(guī)定間距?!?/span> “最后6h內(nèi),應(yīng)測量外殼接近頂部處的溫度至少4次,在此6h內(nèi),溫升的增加應(yīng)不大于1℃” | 溫升測量位置變化, 需做差異試驗(yàn) | ||
4 | 端子與外殼間雷電沖擊電壓試驗(yàn)
| 差異 | 15 | 15 | 新標(biāo)準(zhǔn):“僅對所有端子均與外殼絕緣的單元進(jìn)行本試驗(yàn)?!?/span> 舊標(biāo)準(zhǔn):“僅對全部端子均與外殼絕緣并擬在戶外安裝的單元進(jìn)行本試驗(yàn)?!?/span> | 對全部端子均與外殼絕緣并擬在戶內(nèi)安裝的單元,應(yīng)補(bǔ)做試驗(yàn)。 | ||
序號 | 試驗(yàn)項(xiàng)目 | 新增/差異/刪除 | 條款 | 標(biāo)準(zhǔn)差異 | 補(bǔ)做試驗(yàn)說明 | 備注 | |
GB/T 12747.2-2004 | GB/T 12747.2-2017 | ||||||
1 | 自愈性試驗(yàn) | 差異 | 18 | 18 | 新標(biāo)準(zhǔn): “電容器或元件應(yīng)承受歷時10s的2.15UN的交流電壓或是3.04UN的直流電壓(2.15UN的交流峰值電壓)?!?/span> “直到從試驗(yàn)開始起發(fā)生5次自愈或直到電壓達(dá)到交流:3.5UN或直流:4.95UN為止?!?/span> “當(dāng)電壓達(dá)到上述電壓限值并歷時10s后,如果發(fā)生的自愈數(shù)仍少于5次,但只要發(fā)生了一次自愈,應(yīng)結(jié)束試驗(yàn)。 如果沒有發(fā)生自愈,應(yīng)繼續(xù)試驗(yàn)直到獲得至少一次自愈或中斷試驗(yàn)而對另一相同單元或元件重新試驗(yàn),由制造方選擇具體方案?!?/span> “試驗(yàn)前后應(yīng)測量電容和tanδ。 電容變化應(yīng)小于0.5%。 并附有tanδ計(jì)算公式?!?/span> 舊標(biāo)準(zhǔn): “電容器或元件應(yīng)承受2.15UN的交流電壓歷時10s。” “直到從試驗(yàn)開始起發(fā)生5次擊穿或直到電壓達(dá)到3.5UN為止?!?/span> “如果電壓達(dá)到3.5UN時,發(fā)生的擊穿數(shù)仍少于5次,則可延續(xù)試驗(yàn)時間直到獲得5次擊穿為止,或中斷試驗(yàn)而對另一相同單元或元件重新試驗(yàn),由制造廠選擇。” “試驗(yàn)前后應(yīng)測量電容,其值不得有顯著變化。” | 試驗(yàn)后,驗(yàn)證方法改變,應(yīng)補(bǔ)做試驗(yàn) | |